Journal Of Electronic Imaging雜志簡介
Journal Of Electronic Imaging是由SPIE出版商主辦的計算機科學領域的專業學術期刊，自1992年創刊以來，一直以高質量的內容贏得業界的尊重。該期刊擁有正式的刊號（ISSN：1017-9909，E-ISSN：1560-229X），出版周期Quarterly，其出版地區設在UNITED STATES。該期刊的核心使命旨在推動計算機科學專業及ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科界的教育研究與實踐經驗的交流，發表同行有創見的學術論文，提倡學術爭鳴，激發學術創新，開展國際間學術交流，為計算機科學領域的發展注入活力。
該期刊文章自引率0.2727...，開源內容占比0.0325，出版撤稿占比0.0078...，OA被引用占比0.0554...，讀者群體主要包括計算機科學的專業人員，研究生、本科生以及計算機科學領域愛好者，這些讀者群體來自全球各地，具有廣泛的學術背景和興趣。Journal Of Electronic Imaging已被國際權威學術數據庫“ SCIE（Science Citation Index Expanded） ”收錄，方便全球范圍內的學者和研究人員檢索和引用，有助于推動ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC領域的研究進展和創新發展。
收錄信息
CiteScore（2024年最新版）
- CiteScore：1.7
- SJR：0.264
- SNIP：0.357
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Engineering 小類：Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 540 / 797 |
32% |
| 大類：Engineering 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q3 | 167 / 224 |
25% |
| 大類：Engineering 小類：Computer Science Applications | Q3 | 610 / 817 |
25% |
CiteScore: 這一創新指標力求提供更為全面且精確的期刊評估，打破了過去僅依賴單一指標如影響因子的局限。它通過綜合廣泛的引用數據，跨越多個學科領域，從而確保了更高的透明度和開放性。作為Scopus中一系列期刊指標的重要組成部分，包括SNIP（源文檔標準化影響）、SJR（SCImago雜志排名）、引用文檔計數以及引用百分比。Scopus整合以上指標，幫助研究者深入了解超過22,220種論著的引用情況。您可在Scopus Joumal Metrics website了解各個指標的詳細信息。
CiteScore分區值與影響因子值數據對比
Journal Of Electronic Imaging中科院分區表
中科院分區 2023年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2022年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月基礎版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2021年12月升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區 2020年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 計算機科學 | 4區 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY 成像科學與照相技術 OPTICS 光學 | 4區 4區 4區 | 否 | 否 |
中科院分區表歷年分布趨勢圖
WOS期刊JCR分區（2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 285 / 352 |
19.2% |
| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.3% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q4 | 99 / 119 |
17.2% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 289 / 354 |
18.5% |
| 學科：IMAGING SCIENCE & PHOTOGRAPHIC TECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 31 / 36 |
15.28% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q4 | 104 / 120 |
13.75% |
JCR（Journal Citation Reports）分區，也被稱為JCR期刊分區，是由湯森路透公司（現在屬于科睿唯安公司）制定的一種國際通用和公認的期刊分區標準。JCR分區基于SCI數據庫，按照期刊的影響因子進行排序，按照類似等分的方式將期刊劃分為四個區：Q1、Q2、Q3和Q4。需要注意的是，JCR分區的標準與中科院JCR期刊分區（又稱分區表、分區數據）存在不同之處。例如，兩者的分區數量不同，JCR分為四個區，而中科院分區則分為176個學科，每個學科又按照影響因子高低分為四個區。此外，兩者的影響因子取值范圍也存在差異。
歷年發文數據
| 年份 | 年發文量 |
| 2014 | 168 |
| 2015 | 190 |
| 2016 | 186 |
| 2017 | 224 |
| 2018 | 302 |
| 2019 | 227 |
| 2020 | 147 |
| 2021 | 203 |
| 2022 | 358 |
| 2023 | 316 |
期刊互引關系
| 被他刊引用情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IEEE ACCESS | 167 |
| J ELECTRON IMAGING | 163 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 118 |
| SENSORS-BASEL | 67 |
| SIGNAL PROCESS-IMAGE | 44 |
| APPL SCI-BASEL | 29 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 29 |
| IET IMAGE PROCESS | 29 |
| OPT EXPRESS | 27 |
| NEUROCOMPUTING | 26 |
| 引用他刊情況 | |
| 期刊名稱 | 引用次數 |
| IEEE T IMAGE PROCESS | 573 |
| IEEE T PATTERN ANAL | 435 |
| J ELECTRON IMAGING | 163 |
| PATTERN RECOGN | 159 |
| INT J COMPUT VISION | 153 |
| NEUROCOMPUTING | 118 |
| IEEE T CIRC SYST VID | 105 |
| ACM T GRAPHIC | 74 |
| MULTIMED TOOLS APPL | 74 |
| PATTERN RECOGN LETT | 73 |
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